Серия: «Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники»
Коллектив авторов
Ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
Пер. с англ.: коллектив переводчиков
Науч. ред.: И.В. Яминский
Переплет, 712 с.
Формат: 84х108/16
Год издания: 2011
ISBN: 978-5-91522-232-7
Тираж: 1000 экз.
Цена: 1200 руб.
Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии.
Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.